X射線熒光光譜儀是基于X射線熒光光譜法而進行分析的一種常用的分析儀器。X射線（又稱倫琴射線或X光）是一種波長范圍在0.01~10nm之間的電磁輻射形式，是德國科學(xué)家倫琴在1895年進行陰極射線的研究時發(fā)現(xiàn)的一種新的射線"。隨后，1896年法國科學(xué)教喬治發(fā)現(xiàn)X射線熒光。

      1948年，F(xiàn)riedman和Briks應(yīng)用蓋革計數(shù)器研制出波長色散X射線熒光光譜儀，1969年美國海軍實驗室成功研制第一臺能量色散X射線熒光（EDXRF）光譜儀,自此，X射線熒光光譜法進入蓬勃發(fā)展階段，特別是隨著材料科學(xué)、電子技術(shù)和計算機的飛速發(fā)展，X射線熒光光譜儀分析技術(shù)及其軟件的不斷開發(fā)，使得EDXRFX射線熒光光譜儀發(fā)展逐步完善，無論是硬件還是軟件的開發(fā)與波長色散X射線熒光（WDXRF）光譜儀基本同步。

    特點：

    1.是一種真正意義上的無損意義上的無損檢測方法，具有不污染環(huán)境及低耗能等優(yōu)點，被測樣品在測量前后，無論其化學(xué)成分、重量、形態(tài)等都保持不變，特別適合在現(xiàn)場或在線分析，能實時獲取多種數(shù)據(jù)。

    2.分析速度快，由于一般無需進行樣品預(yù)處理，甚至無需樣品的制備，X射線熒光光譜儀可以對大量的樣品進行快速預(yù)篩選分析。一般情況下，檢測一個樣品需要3min左右。

    3.應(yīng)用范圍廣，可以同時測定樣品多種元素，元素可檢測含量范圍從10負六次方至100%，廣泛用于地質(zhì)、冶金、化工、材料、石油、醫(yī)療和考古等諸多領(lǐng)域，能量色散X射線熒光光譜儀已成為一種強有力的定性和半定量的分析測試技術(shù)。EDXRF儀器的發(fā)展，使X射線熒光光譜儀方法更有效，其應(yīng)用領(lǐng)域更加廣泛

    4.X射線熒光光譜儀的不足之處是：分析精度相對較差，一般約為3%~5%對相當(dāng)一些元素的測定靈敏度還不能讓人滿意